薄膜壓痕外觀檢測

2022-09-02 13:54:32 精質(zhì)視覺

　　薄膜在生產(chǎn)時(shí)會造成各種各樣的瑕疵缺陷，比如黑點(diǎn)、晶點(diǎn)、麻點(diǎn)、破洞、線條、褶皺、蚊蟲、劃傷，壓痕等瑕疵，這些瑕疵會嚴(yán)重影響到薄膜的質(zhì)量，這些有瑕疵的薄膜也會給企業(yè)帶來不小的競價(jià)損失，針對薄膜壓痕等缺陷，精質(zhì)視覺有專門的薄膜外觀檢測設(shè)備。

薄膜壓痕外觀檢測

　　傳統(tǒng)的人工目視檢測方法，如速度慢、精度低、疲勞等已遠(yuǎn)遠(yuǎn)不能滿足工業(yè)生產(chǎn)高速化、高分辨率和無損檢測的要求。與傳統(tǒng)的人眼檢測相比，基于 CCD 的薄膜表面缺陷檢測系統(tǒng)具有快速、可靠、準(zhǔn)確、實(shí)時(shí)在線檢測、自動報(bào)警和顯示當(dāng)前缺陷的具體信息等優(yōu)點(diǎn)，能夠?qū)ζ溥M(jìn)行及時(shí)處理。

　　薄膜壓痕外觀檢測設(shè)備參數(shù)

　　檢測對象：保護(hù)膜、涂布膜、PE膜、食品包裝膜、太陽能薄膜、光學(xué)膜等等

　　典型瑕疵：晶點(diǎn)、黑點(diǎn)、蚊蟲、污點(diǎn)、線條、破洞等

　　檢測速度：Max：800m/min

　　檢測幅寬：任意(根據(jù)生產(chǎn)線定制)

　　檢測精度：0.1mm~1mm(取決于相機(jī)數(shù)量、產(chǎn)線幅寬及車速)

　　瑕疵標(biāo)識：自動聲光報(bào)警

　　歷史記錄：自動記錄每一卷薄膜瑕疵的圖片、大小、分布位置等信息

薄膜壓痕外觀檢測